中国·金沙以诚为本(9001cc)赢在信誉-Chinese Brand

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Run in test设备
—— 概述
Run-in-test即运转测试。主要是对控制器做中长期的老化测试以及线上的老化测试。主要目的是通过器件以及系统的老化测试,激发产品早期类问题、拦截制程/器件/系统类导致的失效问题(失效分析)。

—— 系统组成
•  环境箱(温湿箱):提供被测DUT的工作环境条件
•  冷却系统:对被测DUT进行冷却散热
•  高压直流电源:对被测DUT提供高压直流输入
•  低压直流电源:被测DUT的低压直流供电
•  交流电源:OBC模块的交流电源输入
•  高压直流负载:PTC、OBC、空调等直流高压输出负载
•  低压直流负载:DC-DC模块的输出负载
•  三相交流负载:被测DUT输出的模拟电机负载
•  工装夹具:被测DUT与测试设备的接口
•  HIL系统:整车模拟仿真、电机本体的模拟、通信模拟、数据采集与控制

—— 系统框图


 
—— 典型工况
 



 
 
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