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—— 概述
Run-in-test即运转测试。主要是对控制器做中长期的老化测试以及线上的老化测试。主要目的是通过器件以及系统的老化测试，激发产品早期类问题、拦截制程/器件/系统类导致的失效问题（失效分析）。
—— 系统组成
• 环境箱（温湿箱）：提供被测DUT的工作环境条件
• 冷却系统：对被测DUT进行冷却散热
• 高压直流电源：对被测DUT提供高压直流输入
• 低压直流电源：被测DUT的低压直流供电
• 交流电源：OBC模块的交流电源输入
• 高压直流负载：PTC、OBC、空调等直流高压输出负载
• 低压直流负载：DC-DC模块的输出负载
• 三相交流负载：被测DUT输出的模拟电机负载
• 工装夹具：被测DUT与测试设备的接口
• HIL系统：整车模拟仿真、电机本体的模拟、通信模拟、数据采集与控制
—— 系统框图
—— 典型工况
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